硅片上的氧化物有许多种方法产生:热生长和淀积,包括:热氧化法、CVD、热分解淀积法、阳极氧化法、反应溅射法等。 本质区别:热生长要消耗表面硅材料,而淀积则不消耗表面硅材料。
问答题CMOS工艺中为什么要形成侧墙?在哪一个工艺环节形成及为什么?并说明其形成步骤及主要作用。
问答题什么是阱?CMOS工艺中阱的作用是什么?试说明CMOS双阱工艺中的阱是如何形成的?
问答题试说明NMOS和PMOS的源漏是如何形成的及为什么?
问答题试说明MOS工艺中存在的自对准结构及他们的主要优点。
问答题什么是硅栅自对准技术?简单说明其主要制作步骤和主要优点。