薄膜具有宏观应力，则x射线衍射峰位会出现位移，而如果薄膜具有微观应力，则X射线衍射峰的宽度会变宽。利用X射线行射技术测童薄膜应力的两种方法为： （1）一种方法是改变X射线入射角，同时改变探测器的方向，观测正反射方向的衍射图形； （2）另一种方法是X射线的入射角保持一定，改变探测器方向观测行射线图形。
问答题根据基片应变里求薄膜变形量的方法有哪些？
问答题当薄膜的厚度tf相对和基片的厚度ts很小时，薄膜和基片膨胀系数的相对大小对薄膜应力的性质的影响如何？当应力过大时薄膜会产生何现象？
问答题薄膜应力的一般形式有哪些？
问答题薄膜应力有哪两类，它们各自形成的原因是什么？
问答题为什么说红外吸收和拉曼散射的选择定则和分子振动的对称性密切相关？
