由扩散电势的表达式可知,扩散电势VD与PN结两边半导体材料的掺杂浓度ND、NA,以及该材料的本征载流子浓度ni有关,而本征载流子浓度ni又与材料的禁带宽度和环境温度有关,并且不同的材料又具有不同的禁带宽度,所以扩散电势还与材料的种类和温度有关。
问答题写出下列状态下连续性方程的简化形式: (1)无浓度梯度、无外加电场、有光照、稳态; (2)无外加电场、无光照等外因引起载流子的产生,稳态。
问答题光照射在一块掺杂浓度为1017cm-3的N型硅样品上,假设光照引起的载流子产生率为1013cm-3,求少数载流子浓度和电阻率。
问答题有一块掺杂浓度为1017cm-3的N型硅样品,如果在1μm的范围内,空穴浓度从1016cm-3线性降低到1013cm-3,求空穴的扩散电流密度。
问答题假设有一块掺有1018cm-3施主杂质的硅样品,其截面积为0.2μm×0.5μm,长度为2μm。如果在样品两端加上5V电压,通过样品的电流有多大?电子电流与空穴电流的比值是多少?
问答题实验测出某均匀掺杂N型硅的电阻率为2Ω·cm,试估算施主杂质浓度。