判断题光刻时,必须将硅片与掩模版进行对准,不同的掩模版之间也要对准,可以采用仔细观察的方法。
判断题形成接触孔之前,需要先淀积一层PSG或BPSG材料,然后再该层材料上刻蚀出窗口作为接触孔。
判断题CMOS是由PMOS和NMOS构成,制作时可以是P阱结构,还可以是N阱结构,更可以是双阱结构。
判断题MOS管的制作一般经过阱区制作、有源区光刻、栅氧淀积、栅的淀积和光刻、源漏注入、接触孔光刻、金属淀积及反刻、钝化等工艺。
判断题当掩模版上的图形转移到下方薄膜材料上时,必须要考虑到光刻胶的性质(正胶还是负胶)。
判断题如果掩模版上绝大多数部分是不透光的区域,只有很少一部分透光,这种掩模版称为亮场掩模版。
判断题掩模版一般是在石英玻璃涂抹上一定形状的铬等材料,形成明暗相间的图形。
判断题制作MOS管时,一般先进行源的注入,再进行漏的注入。
判断题CMOS制作时,源、漏、栅等结构都做在场氧化区。
判断题LOCOS工艺主要用于制作MOS管的栅氧结构。
判断题制备多晶硅之前先做一层薄氧,这层薄氧是栅氧。
判断题制作场氧区的时候,氮化硅的作用是作为LOCOS氧化时的掩蔽层。
判断题采用双阱工艺,可以实现PMOS和NMOS的独立控制。
判断题利用重掺杂的多晶硅作为MOS管的栅,可以使得MOS电路特性得到改善,阈值电压下降。
判断题制作MOS管结构时,源漏虽然结构完全对称,但掺杂浓度不同。