(1)芯片粘结面积不得小于芯片面积的80%;(2)芯片周界应保持75%以上的边缘有溢出焊料,并且焊料的溢出高度不能超过芯片厚度的1/2;(3)当发现粘结强度不足或对芯片粘结质量有怀疑时,应用X光透视技术,来检验芯片键合面积和键合质量。
问答题简述银浆粘片的优缺点。
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问答题决定超声键合的工艺一致性和可靠性的工艺参数有哪些?
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