判断题单边突变结的耗尽区主要分布在重掺杂的一侧,最大电场与耗尽区宽度主要取决于低掺杂一侧的杂质浓度。
多项选择题长时间的热电子效应可能会对MOSFET的器件性能产生哪些影响?()
A.阈值电压增大B.跨导增大C.亚阈区特性恶化D.漏源击穿电压增加
多项选择题MOSFET发生速度饱和之后,以下哪些物理量将与沟道长度不相关?()
A.饱和漏源电压B.跨导C.饱和漏极电流D.最高工作频率
多项选择题以下哪些措施可以提高MOSFET的跨导?()
A.减小沟道长度B.增加衬底掺杂浓度C.增加栅氧化层厚度D.增加沟道载流子迁移率
多项选择题在实测的晶体管输出特性曲线中,IC在放大区随VCE的增加而略有增加,这是由()造成的。
A.基区宽度调变效应B.有效沟道长度调制效应C.电导调制效应D.厄尔利效应