判断题异质结是由至少两种不同禁带宽度的半导体相互接触而形成的。
判断题XPS只能检测元素种类,无法标定元素含量。
判断题AFM通常用来观测样品表面形貌。
判断题TEM观测与SEM相同,对样品厚度没有要求。
判断题通常利用TEM观测的分辨率高于SEM。