找考题网-背景图
问答题

简答题 膜厚的量测方法有哪些？

【参考答案】

大致上可分为原位量测、离位量测两类
原位星测系指镀膜进行中量测，普遍使用在物理气相沉积，如微天平、光学、电阻量测。
离位量测系指镀膜完成后量测，对电镀膜的行使较为普遍，具有了解电镀效率的目的，如质量、剖面计、扫描式电子显微镜。

<上一题 目录 下一题>
热门试题

问答题薄膜要有良好的附着力，必须具有哪些基本特性？

问答题沉积的薄膜有内应力的存在，其来源为何？

问答题良好的薄膜须具备哪些特性？影响的因素有哪些？

问答题何为化学气相蒸镀（CVD）？主要的优缺点有哪些？

问答题使用CVD法成长钻石薄膜，氢元素和碳元素的浓度有何重要性？

问答题试说明CVD法生长钻石薄膜之特性？

问答题试说明PVD法生长钻石薄膜之特性？

问答题钻石薄膜通常可使用哪些方法来获得？

问答题钻石材料具有那哪些优点？可应用在哪些产业上？

问答题CVD制程具有哪些优缺点？

问答题电浆辅助VCD系统具有何特色？

问答题CVD化学气相沉积法反应步骤可区分为几个步骤？

问答题TiN氮化钛镀膜具有哪些特点？

问答题真空蒸镀可应用在哪些产业？

问答题蒸镀的加热方式包括几种？各具有何特点？