GB /T 3323.22019中规定，使用（）进行伽玛射线检测时，图像采集时间应在伽玛射线源到达指定部位后开始，并在伽玛射线源收回前结束。

单项选择题GB T 3323.22019中规定，使用存储荧光成像板系统进行伽玛射线数字射线检测时，输送射线源的往返时间应不超过总曝光时间的（）%。

A.5
B.10
C.15
D.20

单项选择题GB T 3323.22019中规定，采用Se75时，最小透照厚度可降至（）mm 。

A.5
B.10
C.15
D.20

单项选择题GB T 3323.22019中规定，经合同各方商定，采用Ir192时，最小透照厚度可降至（）mm 。

A.5
B.10
C.15
D.20

填空题GB T 3323.22019中规定，为获得良好的检测灵敏度，宜选择尽可能低的管电压，以使数字图像得到尽可能高的（）。

填空题GB T 3323.22019中规定，如果不使用几何放大透照技术，则数字探测器应尽可能放置在靠近（）的位置。

单项选择题GB T 3323.22019中规定，双壁双影椭圆透照时，若t De小于0.12，相隔90°透照（）次，不满足条件则相隔120°或60°透照（）次。

A.2；3
B.3；2
C.2；2
D.3；3

单项选择题GB T 3323.22019中规定，外径大于或等于（）mm 的管对接环焊缝，采用射线源中心法进行周向透照时，宜在圆周方向上等间隔放置至少三个像质计。

A.50
B.100
C.150
D.200

填空题GB T 3323.22019中规定，如果采取相关措施能保证，相同被检工件或区域透照部位是以（）和（）进行数字射线检测，且获得的图像对比度灵敏度没有差异，则不必对每幅数字图像进行对比度灵敏度确定。

填空题GB T 3323.22019中规定，像质计置于数字探测器侧时，应紧贴像质计放置铅字“（）”，并在检测报告中注明。

填空题GB T 3323.22019中规定，（）且像质计放在数字探测器侧时，不必作对比试验。

填空题GB T 3323.22019中规定，当检测时使用的数字探测器前端安装了滤波器，则（）应放置在滤波器前面。

单项选择题GB T 3323.22019中规定，只有当像质计无法放置于射线源侧时，才可放置于数字探测器侧，但应至少通过（）次对比试验来确定影像质量，方法是在射线源侧和数字探测器侧各放置一个像质计，采用相同的透照条件，观察所得图像以确定像质值。

A.一
B.二
C.三
D.四

单项选择题GB T 3323.22019中规定，使用丝型像质计时，应垂直于并横跨焊缝放置，细丝朝外，其位置应确保至少有（）mm 丝长显示在灰度值或SNRN均匀的数字图像中。

A.1
B.5
C.7
D.10

填空题GB T 3323.22019中规定，使用阶梯孔型像质计时，像质计的放置应将所要求的（）紧靠焊缝。

填空题GB T 3323.22019中规定，像质计放置时，应优先放置在被检工件射线源侧表面，且在焊缝被透照区中心邻近母材处，紧贴工件表面，并置于母材厚度均匀区，在数字图像上该区具有均匀的（）。