GB /T 3323.22019中规定，只有当像质计无法放置于射线源侧时，才可放置于数字探测器侧，但应至少通过（）次对比试验来确定影像质量，方法是在射线源侧和数字探测器侧各放置一个像质计，采用相同的透照条件，观察所得图像以确定像质值。

单项选择题GB T 3323.22019中规定，使用丝型像质计时，应垂直于并横跨焊缝放置，细丝朝外，其位置应确保至少有（）mm 丝长显示在灰度值或SNRN均匀的数字图像中。

A.1
B.5
C.7
D.10

单项选择题GB T 3323.22019中规定，双丝型像质计放置时，其金属丝应与数字图像的行或列成小角度（2°~5°），若双丝型像质计与数字图像的行或列成（）°，则得到的像质值应减少1。

A.15
B.35
C.45
D.90

单项选择题GB T 3323.22019中规定，当采用几何放大透照布置时，如果放大倍数大于（），则工件焊缝检测的全部图像都应放置双丝型像质计测定图像空间分辨率。

A.1.0
B.1.1
C.1.2
D.1.3

单项选择题GB T 3323.22019中规定，对工件进行数字射线检测时，不强制要求使用（）进行数字图像质量测定。

A.丝型像质计
B.双丝型像质计

单项选择题GB T 3323.22019中规定，单壁单影和双壁单影透照技术，B 级：使用Se75，5mm＜w ≤（）mm ，允许像质值减1。

A.12
B.20
C.25
D.40

单项选择题GB T 3323.22019中规定，单壁单影和双壁单影透照技术，B 级：使用Ir192，10mm＜w ≤（）mm ，允许像质值减1。

A.12
B.24
C.25
D.40

单项选择题GB T 3323.22019中规定，单壁单影和双壁单影透照技术，A级：使用Se75，5mm＜w ≤（）mm ，允许像质值减1。

A.12
B.24
C.25
D.30

单项选择题GB T 3323.22019中规定，单壁单影和双壁单影透照技术，A级：使用Ir192，24mm＜w ≤（）mm ，允许像质值减1。

A.12
B.24
C.25
D.30

单项选择题GB T 3323.22019中规定，单壁单影和双壁单影透照技术，A级：使用Ir192，10mm＜w ≤（）mm ，允许像质值减2。

A.12
B.24
C.25
D.30

单项选择题GB T 3323.22019中规定，双壁双影透照技术，A级和B级：使用Se75，5mm＜w ≤（）mm ，允许像质值减1。

A.5
B.12
C.25
D.30