GB /T 3323.22019中规定，使用阶梯孔型像质计时，像质计的放置应将所要求的（）紧靠焊缝。

填空题GB T 3323.22019中规定，像质计放置时，应优先放置在被检工件射线源侧表面，且在焊缝被透照区中心邻近母材处，紧贴工件表面，并置于母材厚度均匀区，在数字图像上该区具有均匀的（）。

单项选择题GB T 3323.22019中规定，双丝型像质计放置时，其金属丝应与数字图像的行或列成小角度（2°~5°），若双丝型像质计与数字图像的行或列成（）°，则得到的像质值应减少1。

A.15
B.35
C.45
D.90

单项选择题GB T 3323.22019中规定，当采用几何放大透照布置时，如果放大倍数大于（），则工件焊缝检测的全部图像都应放置双丝型像质计测定图像空间分辨率。

A.1.0
B.1.1
C.1.2
D.1.3

填空题GB T 3323.22019中规定，当需使用（）和（）同时对数字图像质量进行测定时，可由合同各方协商确认。

单项选择题GB T 3323.22019中规定，对工件进行数字射线检测时，不强制要求使用（）进行数字图像质量测定。

A.丝型像质计
B.双丝型像质计

单项选择题GB T 3323.22019中规定，单壁单影和双壁单影透照技术，B 级：使用Se75，5mm＜w ≤（）mm ，允许像质值减1。

A.12
B.20
C.25
D.40

单项选择题GB T 3323.22019中规定，单壁单影和双壁单影透照技术，B 级：使用Ir192，10mm＜w ≤（）mm ，允许像质值减1。

A.12
B.24
C.25
D.40

单项选择题GB T 3323.22019中规定，单壁单影和双壁单影透照技术，A级：使用Se75，5mm＜w ≤（）mm ，允许像质值减1。

A.12
B.24
C.25
D.30

单项选择题GB T 3323.22019中规定，单壁单影和双壁单影透照技术，A级：使用Ir192，24mm＜w ≤（）mm ，允许像质值减1。

A.12
B.24
C.25
D.30

单项选择题GB T 3323.22019中规定，单壁单影和双壁单影透照技术，A级：使用Ir192，10mm＜w ≤（）mm ，允许像质值减2。

A.12
B.24
C.25
D.30

单项选择题GB T 3323.22019中规定，双壁双影透照技术，A级和B级：使用Se75，5mm＜w ≤（）mm ，允许像质值减1。

A.5
B.12
C.25
D.30

单项选择题GB T 3323.22019中规定，双壁双影透照技术，A级和B级：使用Ir192，10mm＜w ≤（）mm ，允许像质值减1。

A.5
B.12
C.25
D.30

单项选择题GB T 3323.22019中规定，当透照区域要采用（）幅以上的数字图像时，每幅数字图像应具有一定的搭接区域，以确保整个受检区域均被透照。

A.一
B.二
C.三
D.四

填空题GB T 3323.22019中规定，数字图像搭接应将（）搭接标记置于搭接区的工件表面，并使之能显示在每幅数字图像上。

填空题若材料性质或使用条件不允许在工件表面上作永久性标记时，可通过（）或（）等方式记录。