A.计数器狭缝B.衍射晶体C.探测器D.滤波片
判断题有效放大倍数与仪器可以达到的放大倍数不同，前者取决于仪器分辨率和人眼分辨率，后者仅仅是仪器的制造水平。
判断题晶体中只要有缺陷，用透射电镜就可以观察到这个缺陷。
判断题明场像是质厚衬度，暗场像是衍衬衬度。
判断题TEM的景深和焦长随分辨率Δr0的数值减小而减小；随孔径半角α的减小而增加；随放大倍数的提高而减小。
判断题景深是保持象清晰度时，试样在物平面沿轴向可移动的距离。
