判断题晶体中只要有缺陷,用透射电镜就可以观察到这个缺陷。
判断题明场像是质厚衬度,暗场像是衍衬衬度。
判断题TEM的景深和焦长随分辨率Δr0的数值减小而减小;随孔径半角α的减小而增加;随放大倍数的提高而减小。
判断题景深是保持象清晰度时,试样在物平面沿轴向可移动的距离。
判断题焦深是保持象清晰度时,试样在物平面沿轴向可移动的距离。