游标卡尺零值误差以零刻线和尾刻线的不重合度来表示。

判断题游标类计量器具都存在阿贝误差。

判断题对千分尺示值误差的检定，受检点应均匀分布于测量范围的5点上，测量点的选择原则是：考虑在千分尺测量范围内固定套管上的整数刻度。

判断题千分尺校对用量杆的检定包括两项内容：量杆的尺寸和测量面的平面度。

判断题对于千分尺测量面的平行度，可以用平行平晶检定，也可用量块进行检定，但用量块检定比用平行平晶检定精度高。

判断题用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时，当千分尺测量面与平行平晶接触时，必须在测力作用下接触，也可以转动微分筒接触。

判断题千分尺两测量面的平行度可用平行平晶检定。目前，我国生产的平行平晶共分四组，可用来检定0～100mm四个规格的千分尺平行度。

判断题千分表测砧与测微螺杆测量面的相对偏移的检定是在平板上用杠杆百分表进行，对于测量范围大于30mm的千分尺用百分表检定。

判断题千分尺测微螺杆与测砧两轴线间偏差不能太大，否则会影响千分尺的准确度。

判断题检定千分表工作面的平面度用二级平晶用技术光波干涉法检定。

判断题检定千分尺微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离在工具显微镜上检定，也可用0.4mm的塞尺置于固定套管刻线表面上用比较法检定。

判断题千分尺刻线宽度及宽度差是在工具显微镜上检定。微分筒或刻线盘上的刻线宽度至少任意抽二条刻线。

判断题检定千分尺的测力，用分度值不大于0.2N的专用测力计检定。检定时，使工作面与测力计的球工作面接触后进行。

判断题测量范围为25～50mm的千分尺测砧与测微螺杆工作面的相对偏移量应不大于0.1mm。

判断题千分表测微螺杆的轴向串动和径向摆动均用杠杆千分表检定。

判断题千分尺应附有调整零位的工具，测量上限小于25mm的千分尺应附有校对用的量杆。