判断题用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时，当千分尺测量面与平行平晶接触时，必须在测力作用下接触，也可以转动微分筒接触。
判断题千分尺两测量面的平行度可用平行平晶检定。目前，我国生产的平行平晶共分四组，可用来检定0～100mm四个规格的千分尺平行度。
判断题千分表测砧与测微螺杆测量面的相对偏移的检定是在平板上用杠杆百分表进行，对于测量范围大于30mm的千分尺用百分表检定。
判断题千分尺测微螺杆与测砧两轴线间偏差不能太大，否则会影响千分尺的准确度。
判断题检定千分表工作面的平面度用二级平晶用技术光波干涉法检定。
