GB18173.1-2012中规定，在规定温度下保持1h之后迅速压下上平板，达到所调间距位置，保持（）s后将试样取出，观察试样弯折处是否断裂，并用放大镜观察试样弯折处受拉面有无裂纹。

单项选择题GB18173.1-2012中规定，将弯折仪上平板打开，将厚度相同的两块试样平放在底板上，重合的一边朝向转轴，且距转轴（）mm。

A.10
B.20
C.30
D.40

单项选择题GB18173.1-2012中规定，试样在试验室温度下停放时间不少于（）h。

A.4
B.8
C.16
D.24

单项选择题GB18173.1-2012中规定，低温弯折仪应由低温箱和弯折板两部分组成。低温箱应能在（）之间自动调节，误差为士2℃，且能使试样在被操作过程中保持恒定温度。

A.0℃~40℃
B.10℃~40℃
C.20℃~40℃
D.30℃~40℃

单项选择题GB18173.1-2012中规定，将试条的切面向上，置于读数显微镜的试样台上，读取片材芯层（或主体材料）厚度（不包括纤维层和自粘层），以芯层最外端切线位置计算厚度。每个试条取四个均分点测量，厚度以五个试条共20处数值的算术平均值表示，并报告（）处中的最小单值。

A.10
B.20
C.30
D.40

单项选择题GB18173.1-2012中规定，在距片材长度方向边缘（）mm向内各取一点，在这两点中均分取三点，以这五点为中心采取五块50mm×50mm试样，在每块试样上沿宽度方向用薄的锋利刀片，垂直于试样表面切取一条约50mm×2mm的试条，注意不使试条的切面变形。

A.100±5
B.100±10
C.100±15
D.100±20

单项选择题GB18173.1-2012中规定，读数显微镜：最小分度值0.01mm，放大倍数最小（）倍。

A.10
B.20
C.30
D.40

单项选择题GB18173.1-2012中规定，片材在运输与贮存时，应注意勿使包装损坏，放置于通风、干燥处，贮存垛高不应超过平放（）个片材卷高度。

A.4
B.5
C.6
D.7

单项选择题GB18173.1-2012中规定，材卷曲为（），外用适宜材料包装。

A.长方体
B.圆锥体
C.圆柱体

多项选择题GB18173.1-2012中规定，每一独立包装应有合格证，并注明产品名称、（）、生产日期、产品标准编号。

A.产品标记
B.商标
C.生产许可证编号
D.制造厂名厂址

单项选择题GB18173.1-2012中规定，规格尺寸或外观质量若有一项不符合要求，则该卷片材为不合格品；此时需另外抽取（）卷进行复试，复试结果如仍有一卷不合格，则应对该批产品进行逐卷检查，剔除不合格品。

A.1
B.2
C.3
D.4