A.必须对所使用的探头的入射点和K 值进行测定B.必须有相应的灵敏度试块C.必须是模拟式超声波检测仪D.应根据被检工件的板厚调节扫描速度
单项选择题以下有关底面回波高度法说法不正确的是：（）。
A.底面回波高度法适用于上、下面与入射声束垂直的工件B.底面回波高度法适用于缺陷反射面大于入射声束截面的工件C.底面回波高度降低量与缺陷的大小有关，缺陷越大，底波降低量越大；缺陷越小，底波降低量也越小D.底面回波高度法不能明确地给出缺陷的尺寸
单项选择题在不同方向上检测，其缺陷回波高度显著不同。在垂直于缺陷方向检测时，缺陷回波高；在平行于缺陷方向检测，缺陷回波低，甚至无缺陷回波。这类缺陷一般为（）。
A.体积型缺陷B.平面型缺陷C.点状缺陷D.密集型缺陷
