A.采用足够厚的相同金属将校准标准片垫起B.保证已经采用具有与试样相同厚度和磁性能的校准标准片进行仪器校准C.采用足够厚的相同金属将试样的基体金属垫起D.对结果不影响
多项选择题测量磁性基体金属上非磁性覆盖层厚度时,为了减小边缘效应的影响,不要在靠近如下哪些部位进行测量?()
A.边缘B.孔洞C.不连续的部位D.内转角
多项选择题测量磁性基体金属上非磁性覆盖层厚度,仪器校准时,以下说法正确的是()。
A.有覆盖层的标准片由基体金属以及与基体金属牢固结合的厚度未知而且均匀的覆盖层构成B.在某些情况下,必须将测头再旋转180o来核对仪器的校准C.如果试样基体金属的厚度超过了临界厚度,试样的基体金属厚度可与校准标准片的基体金属厚度不同D.待测覆盖层的弯曲状态不能靠平面方式校准时,有覆盖层的校准片的曲率应与待测试样的曲率相同
多项选择题测量磁性基体金属上非磁性覆盖层厚度时,校准标准片的基体金属应具有与试样的基体金属相似的()。
A.厚度B.磁性能C.表面粗糙度D.导电性
多项选择题测量磁性基体金属上非磁性覆盖层厚度时,校准标准片可以有下述哪些形式?()
A.非磁性金属的箔B.非金属的片C.有覆盖层的标准片D.非磁性金属的片
多项选择题测量磁性基体金属上非磁性覆盖层厚度时,以下说法正确的是()。
A.对于薄的覆盖层,其测量准确度与覆盖层的厚度有关B.对于厚的覆盖层,其测量准确度等于某一近似恒定的分数与厚度的乘积C.基体金属的厚度小于仪器的基体金属临界厚度时,测量将不受基体金属厚度增加的影响D.临界厚度取决于仪器测头和基体金属的性质