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单项选择题

利用散射波法或衍射法对缺陷测高,下列叙述正确的是:()。

A.利用缺陷回波高度确定缺陷高度。
B.利用缺陷回波时间确定缺陷高度。
C.利用缺陷端部最大回波确定缺陷高度。
D.利用缺陷端部最大回波时间确定缺陷高度。