方法：主要有透视照相法、电离检测法、X射线荧光屏观察法、电视观察法及X射线计算机层析摄影等。 原理：基本原理是利用了射线通过物质时的衰减规律，即当射线通过物质时，由于射线与物质的相互作用发生吸收和散射而衰减。
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