判断题试件的几何形状或磁导率的变化等形成的磁痕是无关显示
判断题试件上的耳孔周围有辐射状的裂纹，最宜采用轴向通电磁化法检查
判断题试件上的耳孔周围有辐射状的裂纹，最宜采用穿棒磁化法检查
判断题磁粉探伤方法中，以剩磁法灵敏度最高
判断题磁粉探伤方法中，以连续法灵敏度最高
