A.粘滞程度B.表面张力C.黑体辐射D.复合辐射ICP-OES分析中的物理干扰主要是由于（）所致。……

多项选择题ICP-OES分析仪的主要工作参数有（）

A.高频功率
B.观测高度
C.载气流量
D.观测方向

多项选择题ICP-OES的进样装置对以下（）参数有影响。

A.仪器检出限
B.测量精度
C.灵敏度
D.准确度

多项选择题ICP-OES的非光谱干扰主要有（）

A.连续背景干扰
B.谱线重叠干扰
C.去溶干扰
D.电离干扰

多项选择题ICP-OES存在的主要干扰有（）

A.物理干扰
B.化学干扰
C.光谱干扰
D.电离干扰

多项选择题ICP-OES校正元素间干扰的方法有（）

A.化学富集分离
B.基体匹配法
C.背景扣除法
D.干扰系数法

多项选择题（）会导致ICP测定结果的精密度较差。

A.炬管、雾化器污染
B.蠕动泵管进样时有气泡
C.等离子体不稳定
D.测完高浓度样品后，雾室受污染

多项选择题在ICP-OES分析中，（）方式可以消除谱线干扰。

A.另选谱线
B.干扰系数法
C.内标法
D.化学分离

多项选择题下列关于ICP-OES分析中，待测元素是否存在光谱和基体干扰的说法，正确的是（）

A.选择同一元素的多个波长，根据测量结果是否相同来判断是否存在干扰
B.取相同浓度的校准用单一元素和混合元素标液，分别测出其中某元素同一波长强度，根据是否存在明显差别判断是否存在光谱干扰
C.利用混合标准溶液目标元素分析波长附近是否存在谱线重叠来判断是否存在光谱干扰
D.利用实际样品不同稀释倍数下目标元素的测量结果是否相同来判断是否存在基体干扰

多项选择题在ICP-OES分析中，内标元素和内标线的选择原则是（）

A.内标元素在样品中不存在或含量极微
B.内标线和分析线的激发电位和电离电位相近
C.内标线与分析线的波长相近
D.内标线不受其他元素的干扰

多项选择题对于含有氢氟酸的样品，应避免ICP-OES进样系统使用（）部件。

A.玻璃同心雾化器
B.PFA雾化器
C.PEEK Scott雾室
D.玻璃旋流雾室

多项选择题在ICP-OES分析中，消除化学干扰的手段包括（）

A.优化ICP观测位置
B.基体匹配
C.标准加入法
D.降低RF功率

多项选择题ICP-MS的双电荷离子干扰可以通过最佳化（）降低。

A.雾化气流
B.射频（RF）功率
C.等离子体采样位置
D.等离子体平衡

多项选择题ICP-MS作为高灵敏度元素检测器，可方便和多种仪器联用，实现元素形态分析，拓宽了仪器的应用范围。下列仪器能和ICP-MS实现联用的是（）

A.高效液相色谱仪
B.离子色谱仪
C.气相色谱仪
D.毛细管电泳仪

多项选择题ICP-MS接口的功能主要有（）

A.将电感耦合等离子体中的离子有效传输到质谱仪
B.使原子电离成离子和电子
C.减少来自电感耦合等离子体氩气炬焰和溶剂的中性分子进入质谱系统
D.减少离子在传输时与分子碰撞引起的各种化学反应

多项选择题ICP-MS主要的定量分析方法有（）

A.外标法
B.内标法
C.标准加入法
D.同位素稀释法