判断题二次电子像的衬度是最典型的形貌衬度。
判断题能谱仪通过接收元素的特征X射线进行成分分析，因此可以利用其确定材料中氢元素和锂元素的含量。
判断题透射电子显微镜的成像信号来自于透射电子。
判断题由于晶体的倒易点阵是三维点阵，如果电子束沿晶带轴[uvw]的反向入射时，通过原点O的倒易平面只有一个，这个二维平面叫做零层倒易面。
判断题电子衍射花样中，任一衍射斑点到透射斑点的距离可以近似看作对应倒易矢量的放大像，放到倍数为相机常数。
