判断题多次底波法缺陷检出灵敏度低于缺陷回波法。
判断题CSKⅠA试块上R100和R50两个阶梯圆弧面可用来调节横波扫描速度和探测范围。
判断题标准试块的材质应尽可能与被检工件相同或相近。
判断题目前使用最广泛的超声测厚仪是脉冲反射式测厚仪。
判断题脉冲重复频率的调节与被探工件厚度有关，对厚度大的工件，应采用较低的重复频率。
