（1）晶片尺寸大，发射能量大，扩散角小，远距离探测灵敏度高，适用于大型工件检测： （2）晶片尺寸小，近距离范围声束窄，有利于缺陷定位； （3）对凹凸度大曲率半径小的工件，宜采用尺寸较小的探头。
问答题简述选择超声探头频率的原则？
问答题什么是缺陷反射法？
问答题对比试块的基本要求有哪些？
问答题我国常用试块有哪几种？
问答题使用试块时应注意些什么？
