简答题 什么是少子寿命检测中的陷阱效应？

【参考答案】

在半导体中往往存在一些少数载流子的陷阱中心。当非平衡载流子被激发出来以后，可以被陷阱所俘获，然后经过一段较长的时间（远大于少子寿命）后才被释放而复合衰减，因此使寿命值虚假地增大。