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单项选择题

A.低电导率基体上B.高电导率基体上C.磁性小的材料上D.磁性大的材料上采用涡流检测技术测量膜层厚度时,()的……

采用涡流检测技术测量膜层厚度时,()的测量值明显大于膜层的实际厚度,测量值与实际值的偏差(相对误差)随着膜层厚度的增大而减小。

A.低电导率基体上
B.高电导率基体上
C.磁性小的材料上
D.磁性大的材料上