本征缺陷（晶格缺陷、晶界等）的EL图像对温度较敏感； 非本征缺陷（裂纹、断栅等）导致的EL图像对温度变化不敏感。因此可以通过不同温度下的EL图像的差别来加以区分。
问答题简述EL检测原理。
问答题简述PL检测原理。
问答题太阳能模拟器有哪两种形式
问答题开路电压、短路电流、最大功率点、填充因子、转换效率五大参数的定义。
问答题简述红、紫外可见吸收光谱法相同点与不同点。
