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单项选择题

某一量具工作面的平面度,若在白光情况下用平晶以技术光波干涉法检定时,受检工作面的平面度一般不大于()……

某一量具工作面的平面度,若在白光情况下用平晶以技术光波干涉法检定时,受检工作面的平面度一般不大于()

A.0.01mm
B.0.02um
C.0.03um

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