A.MPa； B.J； C.J／cm.cm。
判断题超声波探伤的英文缩写为RT，射线探伤的的英文缩写为UT（）
判断题荧光磁粉探伤法只能在光线暗的地方进行（）
判断题涡流探伤只适用于导电材料（）
判断题渗透探伤技术能检测表面开口、闭口的缺陷（）
判断题渗透探伤不适用于表面多孔性材料（）
