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单项选择题

A.近场干扰B.衰减C.盲区D.折射单晶直探头接触法检测中,与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出,这是因为……

单晶直探头接触法检测中,与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出,这是因为()。

A.近场干扰
B.衰减
C.盲区
D.折射