A.电性能上要绝缘可靠，不发生闪络或击穿事故。B.机械上要稳定牢靠C.在保证绝缘距离的前提下结构高度应尽可能低……

单项选择题关于冲击电压发生器的技术特性指标下列叙述错误的是（）。

A.发生器的标称电压是发生器每级主电容的标称电容值之和。
B.发生器的标称电压是发生器每级主电容的标称充电电压值与级数的乘积。
C.发生器的标称电压是发生器每级主电容的标称充电电压值除以级数的商。
D.发生器的标称电压是发生器每级主电容的标称电容值与级数的乘积。

单项选择题关于冲击电压发生器的基本原理，下列叙述正确的是（）。

A.电容器并联充电，而后并联放电。
B.电容器串联充电，而后串联放电。
C.电容器串联充电，而后并联放电。
D.电容器并联充电，而后串联放电。

单项选择题下列（）不是造成电阻分压器测量误差的主要原因。

A.电阻本身发热（或环境温度变化）造成阻值变化。
B.电晕放电造成测量误差。
C.绝缘支架的漏电造成测量误差。
D.等电位屏蔽。

单项选择题关于全绝缘变压器的感应耐压试验，下列不正确的是（）。

A.一般在试品的低压绕组（或其它绕组）线端施加两倍的三相对称额定电压，其它绕组开路。
B.被试变压器绕组具有中性点的，中性点可以不接地。
C.没有中性点的绕组应选择合适的线端接地。
D.额定电压为110V及以下的全绝缘变压器，在感应耐压试验时各绕组线端的感应线电压应不超过对地耐压水平。

单项选择题关于进行工频耐压试验时的加电过程，下列叙述正确的是（）。

A.试验电压的初始值应低于1/3试验电压，并应与测量配合尽快升至试验电压，保持规定的试验时间，然后将电压迅速降低到1/3试验电压下，最后切断试验电源。
B.试验电压的初始值应低于1/3试验电压，并应与测量配合尽快升至试验电压，然后将电压迅速降低到1/3试验电压下。
C.试验电压的初始值应低于1/2试验电压，并应与测量配合尽快升至试验电压，保持规定的试验时间，然后将电压迅速降低到1/3试验电压下。
D.试验电压的初始值应低于2/3试验电压，并应与测量配合尽快升至试验电压，然后将电压迅速降低到1/3试验电压下。

单项选择题GB311.1-1997中规定系统标称电压（有效值）为220kV的分级绝缘变压器绕组中性点的短时工频耐受电压为（）

A.中性点固定接地为85kV，不固定接地为140kV。
B.中性点固定接地为85kV，不固定接地为200kV。
C.中性点固定接地为200kV，不固定接地为85kV。
D.中性点固定接地为140kV，不固定接地为200kV。

单项选择题工频耐压的试验目的是考核绕组对地和绕组之间的主绝缘强度。则下列说法错误的是（）

A.这一目的对于全绝缘变压器来说完全能达到。
B.这一目的对于分级绝缘变压器来说完全能达到。
C.这一目的对于分级绝缘变压器，则只能考核绕组对铁轭的端绝缘，绕组部分引线对地绝缘强度。
D.这一目的对于分级绝缘变压器来说至于绕组对地和绕组之间的绝缘强度是无法达到考核目的。

单项选择题关于工频耐压试验下列说法错误的是（）

A.短时工频耐压试验是对绝缘施加一次相应的额定耐受电压的平均值，其持续时间为1分钟。
B.工频耐压试验时，变压器的被试绕组及其引线和与它相连的元件均承受同一试验电压，而非被试绕组则短路接地。
C.对于全绝缘变压器，绕组首末端的工频绝缘水平和工频耐受电压值一致。
D.对于分级绝缘变压器，工频耐压的试验值和绕组末端的工频绝缘水平一致。

单项选择题关于变压器的负载损耗与温度因数K的关系，下列叙述正确的是（）

A.温度因数K与直流电阻的损耗成正比，与附加损耗成反比。
B.温度因数K与直流电阻的损耗成正比，与附加损耗成正比。
C.温度因数K与直流电阻的损耗成反比，与附加损耗成反比。
D.温度因数K与直流电阻的损耗成反比，与附加损耗成正比。

单项选择题对于C.F.H.级绝缘的变压器，其短路阻抗和负载损耗试验后，要将测量结果教正至参考温度。其参考温度为（）

A.115℃
B.60℃
C.45℃
D.75℃

单项选择题同一变压器在同一测试电压和线路参数下，测量直流电阻时，所需要的电流稳定时间与（）无关。

A.变压器的铁心材料
B.变压器的励磁历史
C.变压器的试验电流大小
D.变压器以外的电路参数

单项选择题关于吸收电流，下列叙述错误的是（）

A.收电流是由绝缘体中各种介质极化所引起的。
B.收电流的大小与试验品绝缘的均匀程度密切相关。
C.绝缘比较均匀，则吸收电流较小，吸收现象不太明显
D.缘比较均匀，则吸收电流较大，吸收现象不太明显。

单项选择题进行绝缘特性试验，对绝缘施加直流电压时，流过绝缘介质的电流是（）

A.传导电流
B.电容电流
C.吸收电流
D.以上三个电流之和

单项选择题对于ABE级绝缘的变压器，其参考温度取（）

A.105℃
B.75℃
C.60
D.45℃

单项选择题变压器试验的环境温度为（）

A.10-45℃
B.15-45℃
C.10-40℃
D.10-45℃