判断题园芯片斜探头的上指向角小于下指向角。
判断题被磁化的试件表面有一裂纹，使裂纹吸引磁粉的原因是裂纹的高应力。
判断题胶片粒度是影响小缺陷可见性的重要因素。
判断题在条件许可的情况下，应尽可能采用内照中心法，透照环焊缝。
判断题指向角越小，方向性越好，探测灵敏度越高。
