1、运行一定的测试向量将器件进入低功耗状态； 2、器件保持在低功耗装态下，测量流入VDD的电流； 3、将测量值与spec中定义的参数对比，判断测试通过与否。
问答题Open-short功能测试优缺点。
问答题Open-short串行静态测试方法优缺点。
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