A.等离子体中双电荷离子的形成受元素的二次电离能和等离子体平衡条件控制B.在非常低的雾化气流速条件下，等离子体……

单项选择题下面关于ICP-MS分析中难熔氧化物干扰说法不正确的是（）

A.难熔氧化物离子是指难熔元素与氧结合
B.一般用CeO/Ce的比率来表征仪器的氧化物
C.为减少氧化物和氢氧化物的干扰，尽量选择低的载气流速
D.增加RF可以降低氧化物干扰

单项选择题下面关于ICP-MS分析中多原子离子干扰说法不正确的是（）

A.难熔元素与氧形成氧化物离子会带来多原子离子干扰
B.等离子体中主要成分之间的离子反应产物会带来多原子离子干扰
C.多原子离子干扰是不可以预测的，对分析结果的影响无法降低
D.多原子离子干扰是ICP-MS分析中最严重的干扰类型

单项选择题下面关于ICP-MS检测器的电子倍增器说法不正确的是（）

A.为保护检测器寿命，对高浓度样品尽可能稀释后测定
B.为保护检测器寿命，尽量避免长时间测量高强信号
C.电子倍增器的寿命与总的累积放电无关

单项选择题下面关于ICP-MS接口采样锥和截取锥说法不正确的是（）

A.采用超声波在大约5%的洗涤液中清洗15min，再用去离子水超声清洗15min
B.用专用金属抛光粉和成泥状，再用软布蘸少量由内到外擦拭锥体内表面和外表面
C.用水冲洗抛光粉擦拭过的锥后，再在5%的硝酸中超声清洗2min，再用去离子水洗净并于空气中干燥
D.清洗锥时，可将锥浸泡在5%的稀硝酸中30min

单项选择题下面关于ICP-MS仪器稳定性的说法不正确的是（）

A.短期稳定性一般指在20min内测量结果的稳定程度
B.短期稳定性以20min内等时间间隔对适当元素溶液测量10次的RSD表征
C.长期稳定性以2~4h内等时间间隔对适当元素溶液测量10次的RSD表征
D.短期稳定性可用仪器开机后30min内的测量结果表征

单项选择题下面关于ICP-MS仪器调谐说法不正确的是（）

A.仪器调谐主要用于分析前的质量校准和条件优化
B.多元素同时分析时，仪器调谐液一般应覆盖低中高质量元素
C.仪器调谐应于开机预热稳定一段时间（一般30min以上）后进行
D.调谐时，主要关注非调谐元素的灵敏度、稳定性及氧化物水平等指标

单项选择题下面关于ICP-MS分析的前处理中碱金属熔融法不正确的是（）

A.碳酸盐熔融样品可在瓷坩埚中进行
B.碱金属熔剂的使用带来过量的K、Na等易电离元素会引起严重的基体效应
C.碱金属熔融法可引起严重的多原子离子干扰
D.由于大量熔剂的加入使方法检出限高，因此碱金属熔融法较少用于植物样品和生物样品分解

单项选择题下面关于ICP-MS 分析中由高盐溶液物理效应引起的基体干扰说法不正确的是（）

A.在ICP-MS分析初始的20min内，信号未达到稳定态，即可进行样品定量分析测定
B.由于样品含盐量高，会导致锥孔堵塞变小，从而使分析信号漂移
C.在ICP-MS分析初始阶段，在被测信号稳定前，由于盐分在采样锥孔上沉积，信号迅速下降
D.一般ICP-MS分析中，将总溶解固体（TDS）含量控制在0.2%以下可有效降低基体干扰

单项选择题下面关于四极杆ICP-MS分析中对于使用冷等离子体技术的说法不正确的是（）

A.冷等离子体技术主要通过调节ICP操作参数降低等离子体温度，达到降低氩基多原子离子干扰的目的
B.冷等离子体由于温度太低使多数元素不能充分电离，所以其主要是解决K、Ca、Fe的测定问题
C.降低RF功率，增大载气流速可形成冷等离子体
D.加长采样深度对形成冷等离子体没有帮助

单项选择题下面关于ICP-MS分析中同量异位素于扰说法不正确的是（）

A.同量异位素干扰是样品中与分析离子质量相同的其他元素的同位素引起的质谱重叠干扰
B.同量异位素干扰可通过数学校正公式解决
C.同量异位素干扰可通过选择无干扰同位素解决

单项选择题ICP-MS分析中的基体效应（非质谱干扰）不包括（）

A.双电荷离子干扰
B.抑制和增强效应
C.由高盐含量引起的质谱效应

单项选择题ICP-MS使用的离子检测器不包括（）

A.打拿极电子倍增器
B.法拉第杯检测器
C.Daley检测器
D.FID检测器

单项选择题四极杆质谱仪的分辨率与四极杆的（）、离子飞行速度以及四极杆长度相关。

A.电导率
B.电源频率
C.质量

单项选择题以下关于ICP-MS炬管说法不正确的是（）

A.若炬管可拆卸，可将内管取下用热王水浸泡或煮沸，再用去离子水清洗
B.炬管洗净后可自然放干或用吹风机吹干后使用
C.炬管无须清洗

单项选择题不能作为ICP-MS雾化器堵塞疏通方法使用的是（）

A.在喷嘴处接入压缩空气反吹喷嘴和环面
B.用一段合适塑料管一头套住雾化器出口处，另一头套在装有蒸馏水的洗瓶的出口端冲洗
C.将雾化器喷嘴浸入加热的浓硝酸中
D.用硬的金属丝从雾化器的出口处反捅颗粒物