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单项选择题

A.球面干涉B.等倾干涉C.等厚干涉用平面平晶的技术光波干涉法检定一量具工作面的平面度时,出现的干涉条纹或干涉……

用平面平晶的技术光波干涉法检定一量具工作面的平面度时,出现的干涉条纹或干涉环,其干涉原理是()。

A.球面干涉
B.等倾干涉
C.等厚干涉

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