用X射线荧光光谱法测量土壤和沉积物中的无机元素时，当以经验干扰系数法校正基体效应时，可利用（）直接测定于扰线校正X射线强度的方法，求出（）

填空题用能量色散X射线荧光光谱法测定环境空气颗粒物中的无机元素时，X射线管产生的初级X射线照射到（）、（）的颗粒物样品表面上，被测元素释放出特征X射线荧光进入（）

填空题准直器是由（）的金属箔片组成，它截取并发射X射线，使其中基本上平行的射线进入（）或（）

填空题X射线荧光光谱法采用粉末压片法制样时，如样品不易成型，可加入（）%至（）%的黏结剂，混合后加压成型。

填空题使用能量色散X射线荧光光谱法测定颗粒物中无机元素，目标元素存在干扰时，应采用（）方法对重叠谱峰进行解析，扣除于扰峰的影响。

填空题X射线荧光光谱法当谱峰两边的背景比较平滑时，可采用（）法扣除背景，多在分析线波长的长波一侧。

填空题X射线荧光光谱法扣除背景的方法主要有（）法和（）法。

填空题X射线光管利用高能入射粒子或电子撞击靶元素，产生连续的X射线谱，称为（）辐射。

填空题在波长色散X射线荧光光谱法中，分析谱线的波长及衍射角度的关系符合（）定律。

填空题样品中二氧化硅含量高于（）%时，不再适合用X射线荧光光谱法测定土壤和沉积物中无机元素。

填空题用波长色散XRF测定土壤和沉积物中的无机元素时，样品可采用分析纯的（）或分析纯的高密度低压（）垫底压片。

填空题可通过（）计算谱线重叠干扰校正系数，从而来校正谱线重叠干扰。

填空题X射线光管可分为（）和（）两种类型。

填空题能量色散光谱仪主要部件包括（）和（）及相关电子与控制部件，相对简单。

填空题波长色散光谱仪主要部件包括（）、（）、（）和（）

填空题使用X射线荧光光谱仪测定土壤中重金属元素，其土壤样品在制备时，需要通过（）目筛。