透射电镜（TEM）的样品可分为间接样品和直接样品，其基本要求是： （1）对电子束是透明的，通常样品观察区域的厚度约100~200nm； （2）在电子束作用下是稳定的； （3）必须具有代表性，能真实反映所分析材料的特征。
问答题试分析复型样品的成像原理。为什么要以倾斜方向给复型“投影”重金属？
问答题什么是明场像？什么是暗场像？
问答题简述选区衍射原理及操作步骤。
问答题试比较光学显微镜成像和透射电子显微镜成像的异同点。
问答题透射电子显微镜中物镜和中间镜各处在什么位置，起什么作用？
