(1)对力学性质的影响:缺陷的存在可能提高金属的屈服强度,也可能降低其韧性,增加脆性。 (2)对电学性质的影响:缺陷可以影响物质的导电性,杂质的存在影响半导体的导电特性。 (3)对催化活性的影响:缺陷产生反应活性中心。
填空题GaAs中少量Zn代替Ga是()型;InAs含有稍微过量的In是()型。
填空题VO(化学计量为1:1)的密度测得值和理论值分别为5.92g·cm-3和6.49g·cm-3,证明VO晶体中存在的缺陷属于()。
问答题铝为面心立方结构,其晶格参数为4.049A,密度的计算值和实验测定值(2.697g·cm-1)有差别,反映了晶体中存在有空位缺陷,试求1cm3单位体积晶体中的空位数。
问答题说明下列尖晶石的磁性行为: (1)ZnFe2O4是反铁磁性的; (2)MgFe2O4是亚铁磁性的,其磁矩随温度上升而增加; (3)MnFe2O4是亚铁磁性的,但其磁性与温度无关。
问答题下列少量杂质对AgCl晶体的导电率有什么影响?简述理由。 (1)AgBr (2)ZnCl2 (3)Ag2O