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单项选择题

A、用TR探头B、使用窄脉冲宽频带探头C、提高探头频率,减小晶片尺寸D、以上都是提高近表面缺陷的探测能力的方法……

提高近表面缺陷的探测能力的方法是()

A、用TR探头
B、使用窄脉冲宽频带探头
C、提高探头频率,减小晶片尺寸
D、以上都是