判断题双晶探头有两块压电晶片，中间夹有斜楔块。
判断题可变角探头转动压电晶片可使折射角连续发生变化。
判断题表面波探头用于对薄板中的缺陷进行检测。
判断题表面波探头入射角需在产生瑞利波的临界角附近，通常要比第二介质的入射角略大。
判断题横波斜探头的标称方式有三种一是纵波入射角，二是横波折射角，三是入射角的正切值。
