填空题ICP-OES 分析法中校正光谱干扰常用的方法是（）和（），也可以在混合标准溶液中采用（）的方法消除其影响。
填空题ICP-OES的连续背景于扰主要有（）、（）、复合辐射和高浓度基体元素产生的连续背景辐射。
填空题消除ICP-OES谱线重叠于扰的方法有背景扣除法和（）
填空题ICP发生器主要由高频电源、进样装置和（）组成。
填空题ICP-OES分析过程中，消除物理干扰的最简单方法是（），但应保证待测元素的含量高于（）
