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单项选择题

A.改变α获得不同值的θB.固定α和f,改变晶片直径DC.固定α和D,改变频率fD.固定D,改变f·α值爬波检……

爬波检测时,工件中第一波瓣幅度最大值所对应的折射角θ与入射角α、频率f和晶片直径D有关,为探测不同深度中缺陷一般用下列哪项方式确定θ:()。

A.改变α获得不同值的θ
B.固定α和f,改变晶片直径D
C.固定α和D,改变频率f
D.固定D,改变f·α值

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