判断题与IIW试块相比,CSKⅠA试块的优点之一是可以测定斜探头的分辨力。
判断题利用IIW试块上的φ50孔两侧面的距离,只能测定直探头盲区的大致范围。
判断题软保护膜探头可减少粗糙表面对探伤的影响。
判断题斜探头前部磨损较多时,探头的K值将变小。
判断题双晶直探头倾角越大,交点离探测面距离愈远,覆盖区愈大。