（1）过热是由于加热温度过高或加热时间过长，造成奥体晶粒过份粗大而形成的缺陷，这种缺陷一般可以用适当的热处理加以消除； （2）过烧是由于加热温度太高，使奥氏体晶界局部熔化，或者发生氧化而导致的一种不可挽救的损坏现象。
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