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问答题

简答题 纳米级测量技术的两个发展方向是什么?

【参考答案】

一是光干涉测量技术,它是利用光的干涉条纹来提高测量的分辩率。
二是扫描探针显微测量技术(STM),其基本原理是基于量子力学的隧道效应。