判断题打乱材料磁畴排布的两种方法是：加热到居里点温度以上热处理退磁法和反磁场退磁法。
判断题磁粉检测，所有的磁痕尺寸、数量和产生部位均应记录并图示。
判断题JB T4730.4-2005标准规定：两条或两条以上缺陷磁痕在同一直线上且间距不大于2mm时，按一条磁痕处理，其长度为两条磁痕之和加间距。
判断题JB T4730.4-2005标准规定：当辩认细小缺陷磁痕时应用2～10倍放大镜进行观察。
判断题荧光磁粉检测时，磁痕的评定应在暗室或暗处进行，暗室或暗处可见光照度应不小于20Lx。
